搜索關(guān)鍵詞:IP防護(hù)等級試具,IP防水防塵試驗設(shè)備,晶振測試儀
低溫卷繞試驗裝置
符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997《電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗方法:通用試驗方法—低溫試驗》、JB∕T4278.11-2011、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)。適用于考核測定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能,與低溫箱配套使用。
技術(shù)參數(shù):
試驗方法說明
1、將裝好試樣的試驗設(shè)備在試前和試時,應(yīng)置于按有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的溫度下進(jìn)行冷卻,冷卻時間應(yīng)不少于16小時,16小時的冷卻周期包括冷卻試驗設(shè)備所需的時間。
2、若試驗設(shè)備已預(yù)冷,則冷卻時間可縮短些,然而不能少于4小時,當(dāng)試驗設(shè)備和試樣都已預(yù)冷,那么試樣裝置在心軸上仍需再冷卻1小時。
3、試驗時先把低溫箱的一個塞子取掉,把操作手柄與卷繞機(jī)芯軸聯(lián)結(jié)起來,以每五秒鐘均勻地轉(zhuǎn)動,其轉(zhuǎn)動圈數(shù)應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求.試樣在芯軸上卷繞,整齊地在軸上繞成緊密的螺旋。
4、對于平行軟線,芯軸的直徑應(yīng)以試樣短邊尺寸為根據(jù),試樣以短邊繞在軸上,并且短邊軸線垂直于芯軸。
5、如果低溫試驗箱體積較大,可與低溫沖擊試驗一起做試驗。
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